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    软件名称 运算放大器表征的简化测试规定--A Simplified Test Set for Op Amp Characterization
    运行环境 Win9X/Win2000/WinXP/Win2003/
    整理时间 2009-5-17 11:17:24
    软件星级
    软件大小 333 KB csb23@126.com
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     技术资料介绍

      运算放大器表征的简化测试规定

      The test set described in this paper allows complete quantitative
      characterization of all dc operational amplifier parameters
      quickly and with a minimum of additional equipment.
      The method used is accurate and is equally suitable for laboratory
      or production test—for quantitative readout or for limit
      testing. As embodied here, the test set is conditioned for
      testing the LM709 and LM101 amplifiers; however, simple
      changes discussed in the text will allow testing of any of the
      generally available operational amplifiers.
      Amplifier parameters are tested over the full range of common
      mode and power supply voltages with either of two output
      loads. Test set sensitivity and stability are adequate for
      testing all presently available integrated amplifiers.
      The paper will be divided into two sections, i.e., a functional
      des cription, and a discussion of circuit operation. Complete
      construction information will be given including a layout for
      the tester circuit boards.
      FUNCTIONAL DEs criptION
      The test set operates in one of three basic modes. These
      are: (1) Bias Current Test; (2) Offset Voltage, Offset Current
      Test; and (3) Transfer Function Test. In the first two of these
      tests, the amplifier under test is exercised throughout its full
      common mode range. In all three tests, power supply voltages
      for the circuit under test may be set at ±5V, ±10V,
      ±15V, or ±20V.

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